FISCHERSCOPE X-RAY XAN215菲希爾X射線測厚儀是德國菲希爾 (Helmut Fischer) 推出的入門級經(jīng)濟(jì)型 X 射線熒光測厚儀，專為珠寶、錢幣和貴金屬的無損成分分析與鍍層厚度測量設(shè)計(jì)，具備高性價(jià)比、操作簡便、精度可靠的特點(diǎn)，符合 DIN ISO 3497 和 ASTM B 568 標(biāo)準(zhǔn)。

FISCHERSCOPE X-RAY XAN215菲希爾X射線測厚儀核心定位與測量原理

核心定位：高性價(jià)比入門級 XRF 測厚儀，專注于貴金屬分析與鍍層測厚，特別適合金、銀等簡單合金

測量原理：采用能量色散 X 射線熒光光譜法 (EDXRF)，基于基本參數(shù)法 (FP 法)，無需標(biāo)準(zhǔn)片即可測量多種鍍層系統(tǒng)

無損檢測：非接觸式測量，不損傷樣品表面，適合高價(jià)值珠寶和精密零件