菲希爾X熒光射線測厚儀XDL230

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230檢測能力與精度

元素范圍：覆蓋氯（Cl, 17）至鈾（U, 92），最多可同時測定 24 種元素。

鍍層分析：支持多層鍍層結構檢測，包括裝飾性鍍層、功能性鍍層（如電子工業中的焊盤鍍層）及復雜基體材料，厚度測量范圍從納米級（如超薄裝飾鉻鍍層）到毫米級。

檢測精度：重現性變異系數小于 0.5%，誤差控制在 1% 以內，滿足航空航天、醫療器械等超精密應用需求。

硬件設計與創新

X 射線源：帶鈹窗口的鎢靶 X 射線管，高壓三檔可調（30kV、40kV、50kV），使用壽命較上一代提升 40% 以上。

探測器：采用比例計數器（PC），能量分辨率高（130eV@Mn Kα），計數率穩定，適合快速測量。

測量距離補償：DCM（Distance Compensation Method）技術，在 0-80mm 范圍內自動補償距離變化對精度的影響，可適應腔體零件等復雜形狀樣品。

樣品定位系統：高分辨率 CCD 彩色攝像頭（40-160 倍放大）與激光定位輔助，最小測量光斑直徑約 0.2mm（使用 φ0.1mm 準直器時），適用于電子元器件、珠寶等微小零件的局部成分分析。

軟件與操作便捷性

WinFTM® 軟件：全中文界面，支持無標樣分析（基于基本參數法）、數據管理、報告生成及樣品庫建立，可存儲大量檢測數據并與企業質量管理系統集成。

自動化流程：通過計算機控制全流程，支持實時視頻監控測量過程，降低操作門檻。