FISCHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列熒光鍍層測厚儀介紹：

       多用途的鍍層厚度測量儀。無論是薄的還是厚的鍍層（如50 nm Au或100 μmSn）都通過選擇好的高壓濾片組合很好地測量。微聚焦管可以達到在很短的測量距離內小到100 μm的測量點大小。高達數kcps的計數率可以被比例接收器接收到。對于FISCHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列來說，X射線源和接收器位于測量室的下方，這樣可以快速方便地定位樣品。除此以外，視頻窗口也可以輔助定位，儀器前方的大控制臺簡化了操作，特別是在日常生產中測量大量部件時特別有用。盡管結構緊湊，但這些儀器都有大容量的測量室，這樣大的物品也可以測量。殼體的開槽設計（C型槽）可以測量諸如印刷線路板類大而平整的樣品，即使這些樣品可能無法*放入測量室，樣品直接放置在平整的支撐臺上，或者定位精度更高的手動XY工作臺上。

XULM 240介紹：

       XULM適合測量小的結構。它配備了微聚焦管，測量點小可達約100μｍ，同時比例接收器仍然可以保持相對高的計數率。即使很短的測量時間也可以達到很好的重復精度。此外，XULM配備了可自動切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應用創造*佳的激勵條件。

應用實例:

XULM特別適合測量細小的部件如連接器，觸點或線，也可以測量印刷線路板上的Au，Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測量點為?0.25mm的準直器測量，20秒的重復精度可達2.5nm。