

SP25M--雷尼紹Renishaw全國代理 SP25M小巧的尺寸和自動(dòng)吸附安裝功能使之與PH10M PLUS / PH10MQ PLUS和PH6M測座兼容。它還可安裝在自動(dòng)吸附的多芯加長桿上
查看詳細(xì)介紹雷尼紹探頭價(jià)格TP200 TP200是一種使用電子應(yīng)變計(jì)技術(shù)的探頭,其精度高于運(yùn)動(dòng)觸發(fā)式探頭,應(yīng)變片技術(shù)具有*可比擬的重復(fù)性和準(zhǔn)確的三維輪廓測量
查看詳細(xì)介紹RTP20自動(dòng)測座-英國雷尼紹Renishaw RTP20是精巧型測座, 具有數(shù)控功能, 配有集成的TP20觸發(fā)式測頭RTP20測座允許集成的測頭利用A軸和B軸以15度為增量轉(zhuǎn)動(dòng), 具有168個(gè)可重復(fù)定位的空間位置
查看詳細(xì)介紹SP25M-英國雷尼紹三坐標(biāo)配件 SP25M由兩個(gè)傳感器組成,包含在一個(gè)外殼中。用戶可從五個(gè)掃描模塊(可安裝長度從20 mm至400 mm的M3測針)中選擇任意一個(gè),與轉(zhuǎn)接模塊(與雷尼紹的TP20系列測頭模塊兼容)進(jìn)行切換
查看詳細(xì)介紹SP600高性能檢測、數(shù)字化和輪廓掃描 提供三種用途極為廣泛的SP600掃描測頭系統(tǒng)。每個(gè)系統(tǒng)包括測頭本身、計(jì)算機(jī)接口卡及測針模塊交換架。
查看詳細(xì)介紹雷尼紹REVO RSP3-1 3D掃描測頭 RSP3是RSP2測頭的補(bǔ)充,為REVO系統(tǒng)提供3D掃描 (x,y,z) 能力,并可安裝曲柄式測針進(jìn)行測量。它用于三軸掃描測量,例如在測量過程中,使用固定的REVO測座角度
查看詳細(xì)介紹新型PH20測座雷尼紹Renishaw代理 新型PH20測座采用了為REVO®測量系統(tǒng)( 曾獲得多項(xiàng)殊榮) 而開發(fā)的技術(shù)。 它運(yùn)用*的“測座碰觸” 方法進(jìn)行快速觸發(fā)測量和快速五軸無級定位
查看詳細(xì)介紹A-4192-0002雷尼紹SP600探頭價(jià)格 雷尼紹的SP600模擬掃描測頭系列為各種坐標(biāo)測量機(jī)提供高性能檢測、數(shù)字化及輪廓掃描功能。提供三種用途廣泛的SP600掃描測頭系統(tǒng)
查看詳細(xì)介紹雷尼紹MH20/MH20i手動(dòng)測座 MH20是手動(dòng)可轉(zhuǎn)角測座,具有集成的TP20機(jī)械式測針模塊安裝底座。 A軸可在XY平面上旋轉(zhuǎn)±93°。B軸可在Z平面上旋轉(zhuǎn)±300°。指輪將旋轉(zhuǎn)軸鎖定到測座運(yùn)動(dòng)范圍內(nèi)的任意位置。
查看詳細(xì)介紹雷尼紹TP7M三坐標(biāo)探頭A-1073-0121 25 mm直徑應(yīng)變片觸發(fā)式測頭,具有自動(dòng)吸附固定選項(xiàng),適于高精度的工件量測。TP7M測頭是采用應(yīng)變片技術(shù)的電子測頭,具有較高的精度,消除了各向異性和復(fù)位誤差,
查看詳細(xì)介紹A-1371-0271雷尼紹三坐標(biāo)測頭TP20 上海篤摯儀器代理供應(yīng)的雷尼紹TP20是一款超小型五向或六向機(jī)械結(jié)構(gòu)式觸發(fā)測頭系統(tǒng)。雙部件設(shè)計(jì),由測頭本體和可分離測針模塊組成,使用高重復(fù)性磁接頭連接。
查看詳細(xì)介紹雷尼紹坐標(biāo)機(jī)掃描測頭 掃描測頭每秒能夠采集幾百個(gè)表面點(diǎn),可以測量輪廓、尺寸和位置。掃描測頭也可用于采集離散點(diǎn),與觸發(fā)式測頭類似
查看詳細(xì)介紹雷尼紹REVO-2測頭選項(xiàng) REVO系統(tǒng)采用同步運(yùn)動(dòng)和五軸測量技術(shù),極大降低了坐標(biāo)測量機(jī)在超高測量速度下的動(dòng)態(tài)誤差。 這是通過坐標(biāo)測量機(jī)做慢速線性運(yùn)動(dòng)的同時(shí)由REVO-2測座完成要求的快速運(yùn)動(dòng)來實(shí)現(xiàn)的
查看詳細(xì)介紹雷尼紹五軸測量技術(shù)良好測座PH20 雷尼紹的五軸測量技術(shù)基于良好的測座、傳感器和控制技術(shù),測量速度和靈活性,同時(shí)避免了傳統(tǒng)技術(shù)自身速度和準(zhǔn)確性不可兼得的內(nèi)在缺點(diǎn)。
查看詳細(xì)介紹雷尼紹三坐標(biāo)探頭SP25M工作原理 掃描測量提供了一種從規(guī)則型面工件或其他復(fù)雜工件上高速采集形狀和輪廓數(shù)據(jù)的方法。觸發(fā)式測頭可采集表面離散點(diǎn),而掃描系統(tǒng)則可獲取大量的表面數(shù)據(jù)
查看詳細(xì)介紹雷尼紹三坐標(biāo)測座MH20i 手動(dòng)可重復(fù)定位測座與TP20機(jī)械式測針模塊的安裝底座和兩軸轉(zhuǎn)角結(jié)合,可實(shí)現(xiàn)靈活的測針交換和可重復(fù)的測頭定位。
查看詳細(xì)介紹三軸觸發(fā)測頭TP200 雷尼紹Renishaw TP200或TP200B測頭本體(TP200B為另一款,允許更大振動(dòng)公差) ?TP200測針模塊 — 選擇固定過行程測力:SF(標(biāo)準(zhǔn)測力)或LF(低測力)
查看詳細(xì)介紹雷尼紹三坐標(biāo)配件TP20探頭模塊 TP20是一款超小型五向或六向機(jī)械結(jié)構(gòu)式觸發(fā)測頭系統(tǒng)。雙部件計(jì),由測頭本體和可分離測針模塊組成,使用高重復(fù)性磁接頭連接。
查看詳細(xì)介紹雷尼紹M2紅寶石測針原裝代理 雷尼紹提供品種齊全的精密測針及測針附件,可用在我們的坐標(biāo)測量機(jī)測頭、機(jī)床測頭、掃描測頭以及Equator™比對儀上。雷尼紹m2直測針適用于檢測可*地直接接觸被測表面的簡單特征
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